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X荧光光谱法分析硅质-半硅质耐火材料的主次元素含量 作者：郭红丽等 -----《光谱实验室》2010.4
作者： 发布时间：2016-07-21 浏览次数：2876
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X荧光光谱法分析硅质-半硅质耐火材料的主次元素含量
介绍了玻璃熔片XRF测定硅质-半硅质耐火材料中SiO2、Al2O3、Fe2O3、TiO2、CaO、MgO、K2O、Na2O等常见组分的定量分析.确定了该分析方法所适用的测定范围,并对标样的制备、试验条件的选择和分析结果做出了详细描述.
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